實時膜厚檢測儀DIGILEM-CPM-Xe/Halogen-電子/半導體檢測儀器 參考價：面議
實時膜厚檢測儀DIGILEM-CPM-Xe/Halogen它是干涉測量設備，提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測。單色光打在樣品表面，由于膜厚和高度...
EV-140C等離子發(fā)光分析終點檢測儀-電子/半導體檢測儀器 參考價：面議
EV-140C等離子發(fā)光分析終點檢測儀這是一套分析放射性發(fā)光的終點監(jiān)測設備，專為以等離子技術為基礎的半導體薄膜制程進行終點檢定或等離子條件的監(jiān)控而研制。的數(shù)學模...
小型工藝氣體分析儀MICROPOLE系統(tǒng)-電子/半導體檢測儀器 參考價：面議
小型工藝氣體分析儀MICROPOLE系統(tǒng)是一種目前市面上zui小的質(zhì)量能譜儀分析系統(tǒng)。通過享有的小型化設計將四電極質(zhì)量過濾器進行排列，從而獲得了*的緊湊尺寸。
